一种数字电路系统的测试方法

本发明提供一种数字电路系统的测试方法，通过加电前的电源接口阻抗测试，加电后的电压正确性测试、锁相环模块时钟测试、DDS准确度与同源稳定度测试、AD/DA通路性能测试，依次对数字电路系统中协作的模块进行测试，可以保证数字电路系统中主要模块的功能及性能得到全面的测试，可以有效地评估数字电路系统的相应指标，能够最快速度得到测试结果，可靠性高。
上海航天测控通信研究所 | 中国科学院上海天文台
刘杰 | 帅涛 | 赵广东 | 陈鹏飞 | 张喆 | 黄奕